示波器如何测量晶振是否起振？

示波器负探头接地，正探头接晶振的正端，示波器会有相关频率的正弦波和频率值。晶振两端接在那边没有区别。

探棒的电容会影响振荡，要用对探棒。至少要用 10X 探棒，以减少影响。但有时可能连 10X 探棒也会影响，需要用合适的主动探棒，或是测量系统其他输出作间接判断，又或是用个逻辑闸作缓冲器，又或在探棒输入串个小电容等等，以减轻测量的影响。

同样的探棒，接 OSCOUT(OSC2,XTAL2) 时的影响较小, 接 OSCIN(OSC1,XTAL1) 时的影响较大，更容易造成停振。因此，不要碰 OSCIN，只要测 OSCOUT 有信号就可以了。

扩展资料：

1、总频差：在规定的时间内，由于规定的工作和非工作参数全部组合而引起的晶体振荡器频率与给定标称频率的最大频差。

说明：总频差包括频率温度稳定度、频率温度准确度、频率老化率、频率电源电压稳定度和频率负载稳定度共同造成的最大频差。一般只在对短期频率稳定度关心，而对其他频率稳定度指标不严格要求的场合采用。例如：精密制导雷达。

2、频率温度稳定度：在标称电源和负载下，工作在规定温度范围内的不带隐含基准温度或带隐含基准温度的最大允许频偏。

fT=±（fmax-fmin)/(fmax+fmin)

fTref =±MAX[|（fmax-fref)/fref|，|(fmin-fref)/fref|]

fT：频率温度稳定度（不带隐含基准温度）

fTref：频率温度稳定度（带隐含基准温度）

fmax ：规定温度范围内测得的最高频率

fmin：规定温度范围内测得的最低频率

fref：规定基准温度测得的频率

说明：采用fTref指标的晶体振荡器其生产难度要高于采用fT指标的晶体振荡器，故fTref指标的晶体振荡器售价较高。

3、频率稳定预热时间：以晶体振荡器稳定输出频率为基准，从加电到输出频率小于规定频率允差所需要的时间。

然而在某些应用中晶体振荡器需要频繁的开机和关机，这时频率稳定预热时间指标需要被考虑到（尤其是对于在苛刻环境中使用的军用通讯电台，当要求频率温度稳定度≤±0.3ppm(-45℃～85℃），采用OCXO作为本振，频率稳定预热时间将不少于5分钟，而采用DTCXO只需要十几秒钟）。

参考资料来源：百度百科-晶体振荡器

参考资料来源：百度百科-示波器

晶振测量

晶振对电容负载较敏感，当使用×1挡时，探头电容相对较大，相当于一个很重的负载并联在晶振电路中，很容易使其停止振荡，因此我们使用10X档的探头更佳。

我们将示波器通道设置为交流耦合，10X档位。确保晶振主板上电运行后，拔掉探头的套子，露出探针。将探头夹子接到主板地线即供电负极端，探针针尖接触到晶振的其中一个引脚。

调节示波器的垂直档位和时基，使波形至少一个周期完整显示于屏幕中，如下图所示此晶振频率为25MHz

另外，晶振的输出边沿一般比较陡，上升时间较短，因为晶振的输出中包含了较多的高频分量，因此应该将其当作高频信号来看待。探头×1挡的带宽有限制，而探头×10挡是全带宽开启的，因此必须选用×10挡进行测量。

探棒的电容会影响振荡，要用对探棒。至少要用 10X 探棒，以减少影响。但有时可能连 10X 探棒也会影响，需要用合适的主动探棒，或是测量系统其他输出作间接判断，又或是用个逻辑闸作缓冲器，又或在探棒输入串个小电容等等，以减轻测量的影响。

同样的探棒，接 OSCOUT(OSC2,XTAL2) 时的影响较小, 接 OSCIN(OSC1,XTAL1) 时的影响较大，更容易造成停振。
因此，不要碰 OSCIN，只要测 OSCOUT 有信号就可以了。
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EDN博客精华文章 作者：CoolDesign
　　这次电路板测试时，发现一块电路板总是烧不进程序。遂予以检查：

　　1、电源，地都没有问题

　　2、用示波器测晶振是否起振，发现了一个奇怪的问题，XOUT端的24MHz类正弦波出现，而XIN就是没有？是何缘故，没有找出来原因。

　　于是就不得换了颗主芯片，QFP128以前不会，现在拆装起来已经很轻松了，感谢小王同事的指导（小得意一把，要知道以前最普通的贴片我都不敢装）。

　　但是换过芯片后，虽然可以烧写程序了，但是我又量了一下晶振，还是XIN没有，XOUT有。可以确认芯片已正常工作了，为什么量不出晶振起振呢？电路无误，只能检查示波器是否有问题。

　　用探头在示波器上做自校正，5V　1KHz方波正常。那问题出在哪儿呢？难道不能量晶振？不可能，我以前都是量过的。

　　发现探头用的X1档，我试着换了X10档，突然发现有了，起振波形有了。奇怪了，为什么X1时，XIN没有，而X10时有呢？

　　从探头看起，我从泰克的网页上查到，原来是与探头的电容有关。

　　示波器探头的特征参数有：

　　Type

　　Cable Length

　　Attenuation

　　Bandwidth at -3 dB

　　System Input Resistance

　　Typical Input C

　　Max Voltage

　　Compensation Range

　　Read Out

　　ID/Gnd Ref.

　　Tip/Head Style

　　对应：

　　P2200　x　　10X/1X　　200MHz/6MHz 10MO/1MO 16pF/95pF 300V/150V

　　这里Typical input C很重要，1X时为95pF,这样的电容大小影响了晶振的起振，晶振的匹配电容为30pF，所以XIN测不出来波形是正常的，不会影响芯片工作。如果要测量是否起振，应用电容较小的探头，如选择10X这档。

　　同样，由上面分析可知，从准确度上讲，严格地讲，示波器测出来的波形都是有失真的，不是实际值。当然对于晶振来说，不管是否加电容，以及加多大电容，影响的是波形的形状质量，不会影响频率大小的。所以系统会正常工作。

　　简单问题，但是仍要谨慎对待！

　　首先带测定的晶振电路正常供电，然后直接使用示波器的探头接触晶振管脚测试即可，有些示波器如果探头不打到衰减档可能会引起晶振停振；所以探头最好打到衰减档进行测试，探头测试晶振管脚有固定正确频率的正弦波信号输出即可。

示波器负探头接地，正探头接晶振的正端，示波器会有相关频率的正弦波和频率值。