控制限是用制程数据计算出来的, 不同的数据得出的控制上下限是不一样。如果是Xbar-R均值极差图,那么控制上下限的公式如下:
UCLxbar=X``+A2*R` X``是全体数据的均值,A2是常数,R`是极差平均值
LCLxbar=X``-A2*R`
控制图p图里计算后呈现出来的都是管制上下限,而控制限和规格限具有包含、相交和背离的三种情况。
扩展资料:
简介分类
SPC控制图是对过程质量加以测定、记录从而进行控制管理的一种用科学方法设计的图。1928年由沃特·休哈特(Walter Shewhart)博士率先提出。
其指出:每一个方法都存在着变异,都受到时间和空间的影响,即使在理想的条件下获得的一组分析结果,也会存在一定的随机误差。
但当某一个结果超出了随机误差的允许范围时,运用数理统计的方法,可以判断这个结果是异常的、不足信的。
问世数十年来,质量控制图在众多现代化工厂中得到了普遍应用,并凭借其强大的分析功能,为工厂带来丰厚的实时收益。最初的控制图分为计量型与计数型两大类,包含七种基本图表。
计量型控制图包括:
IX-MR(单值移动极差图)
Xbar-R(均值极差图)
Xbar-s(均值标准差图)
计数型控制图包括:
P(用于可变样本量的不合格品率)
Np(用于固定样本量的不合格品数)
u(用于可变样本量的单位缺陷数)
c(用于固定样本量的缺陷数)
参考资料来源:百度百科——SPC控制图
控制图p图里计算后呈现出来的都是管制上下限,而控制限和规格限具有包含、相交和背离的三种情况,如果控制上下限包含了规格上下限,说明你的过程能力不足,需要进一步的改进,以上建议仅供参考,如果需要再细致的沟通,可在知道上联系!
控制图P图里的上下限是规格上下限还是管制上下限呢?是管制上下限!
控制上下限可以超出规格上下限吗?管制上下限肯定比规格上下限要求严格,即控制限更窄!不然做SPC批用?