系统测试和集成测试的区别

系统测试和集成测试的区别有以下几个方面。

1、测试对象不同：

系统测试对象是整个系统，包括系统中的硬件等；集成测试对象是模块之间的集成和调用关系。

2、测试方法不同：

系统测试一般由独立测试小组采用黑盒方式来测试；集成测试一般由开发小组采用白盒加黑盒的方式来测试。

3、测试依据不同：

系统测试依据是系统结构设计，目标说明书，需求说明书等；集成测试依据是程序结构设计。

扩展资料：

集成测试是单元测试的逻辑扩展。它最简单的形式是：把两个已经测试过的单元组合成一个组件，测试它们之间的接口。从这一层意义上讲，组件是指多个单元的集成聚合。

在现实方案中，许多单元组合成组件，而这些组件又聚合为程序的更大部分。方法是测试片段的组合，并最终扩展成进程，将模块与其他组的模块一起测试。最后，将构成进程的所有模块一起测试。此外，如果程序由多个进程组成，应该成对测试它们，而不是同时测试所有进程。

系统测试是将经过集成测试的软件，作为计算机系统的一个部分，与系统中其他部分结合起来，在实际运行环境下对计算机系统进行的一系列严格有效地测试，以发现软件潜在的问题，保证系统的正常运行。

参考资料来源：百度百科-系统测试

百度百科-集成测试

系统测试最主要的就是功能测试，测试软件《需求规格说明书》中提到的功能是否有遗漏，是否正确的实现。做系统测试要严格按照《需求规格说明书》，以它为标准。测试方法一般都使用--黑盒测试..
集成测试在系统测试之前，单元测试完成之后系统集成的时候进行测试。集成测试主要是针对程序内部结构进行测试，特别是对程序之间的接口进行测试。集成测试对测试人员的编写脚本能力要求比较高。测试方法一般选用黑盒测试和白盒测试相结合。

就是一个东西，日本项目叫结合测试，单元测试日本项目叫单体测试

台湾欣忆测试系统：

1、 型号：Advantest－T5588H

2、 产地：日本爱德万

3、 市场价格：1600－2400万元

4、 基本参数：

l Target Devices: DDR2-SDRAMs, FLASH memories

l Simultaneous Testing: Up to 512 devices per system

l Test Speed: 400 MHz/800 Mbps

5、 设备功能及特点：

i. Memory DRAM 世界第一品牌

ii. Advantest推出最新的记忆体测试仪T5588系列，适合量产型高速双资料传输速率DRAM (DDR2-SDRAM)元件。

iii. T5588记忆体测试系统DDR模式的最大测试速度为800Mbps。双台配置的设备可同时测试512个元件，它有效地利用了空间，其容量是旧型设备T5593的两倍。

iv. 高性能材料处理器可同时处理256个记忆体件，产品具有各种封装形式：TSOP-1、TSOP-2、CSP和BGA。

v. 测试工具改进了性能，并具有旧型产品M6542AD工具的快速性，每小时可测试12,000件。它的热控制功能可使设备在-30℃至125℃之间进行测试。